Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр последовательного действия

• Определяемые элементы: 4Be – 92U
• Локальный анализ и картирование элементов с шагом 250 мкм (патент)
• Качественный/количественный анализ с использованием линий высших порядков (патент)
• Определение толщины и элементного состава плёнок и покрытий
• Анализ методом фундаментальных параметров и калибровочных кривых с учётом матричной коррекции
• 10 кристаллов, 5 первичных фильтров, 5 коллиматоров

С подробными характеристиками прибора Последовательный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр Lab Center XRF-1800 можно ознакомится по ссылке...